鉅大LARGE | 點(diǎn)擊量:741次 | 2020年04月01日
穩(wěn)健的汽車40V功率MOSFET提高汽車安全性
意法半導(dǎo)體最先進(jìn)的40V功率MOSFET可以完全滿足EPS(電動(dòng)助力轉(zhuǎn)向系統(tǒng))和EPB(電子駐車制動(dòng)系統(tǒng))等汽車安全系統(tǒng)的機(jī)械、環(huán)境和電氣要求。這些機(jī)電系統(tǒng)必須符合汽車AECQ101規(guī)范,具體而言,低壓MOSFET必須耐受高溫和高尖峰電流。
1.前言
EPS和EPB系統(tǒng)均由兩個(gè)主要部件組成:電動(dòng)伺服單元和機(jī)械齒輪單元。電動(dòng)伺服單元將電機(jī)的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)傳給機(jī)械齒輪單元,進(jìn)行扭矩放大,執(zhí)行機(jī)械動(dòng)作。電動(dòng)伺服單元是用功率MOSFET實(shí)現(xiàn)的兩相或三相逆變器,如圖1所示。
圖1.EPS和EPB系統(tǒng)的伺服單元拓?fù)?/p>
圖中負(fù)載是一臺(tái)電機(jī),通常是永磁無(wú)刷直流電機(jī)(BLDC),由一個(gè)12V電池進(jìn)行供電。
2.汽車對(duì)功率MOSFET的要求
EPS和EPB逆變器所用的40V功率MOSFET,要想符合AECQ101汽車認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),必須滿足以下所有要求:
1.開(kāi)關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗非常低
2.輸出電流大
3.Ciss/Crss比值小,EMI抗擾性強(qiáng)
4.優(yōu)異的耐雪崩性能
5.出色的過(guò)流和短路保護(hù)
6.熱管理和散熱效率高
7.采用穩(wěn)定的SMD封裝
8.抗負(fù)載突降和ESD能力優(yōu)異
2.1.AECQ101功率MOSFET的參數(shù)測(cè)量值
我們選擇一些符合EPS和EPB系統(tǒng)要求的競(jìng)品,與意法半導(dǎo)體的40V汽車功率MOSFET進(jìn)行對(duì)比實(shí)驗(yàn)。表1列出了意法半導(dǎo)體的STL285N4F7AG汽車40V功率MOSFET和同級(jí)競(jìng)品的主要參數(shù)測(cè)量值。
表1.STL285N4F7AG與競(jìng)品參數(shù)測(cè)量值比較表
由于兩個(gè)安全系統(tǒng)的工作電壓都是在12V-13.5V區(qū)間,功率MOSFET的標(biāo)稱電壓是40V,因此,只要確保擊穿電壓(BVdss)接近46V,就能正確地抑制在開(kāi)關(guān)操作過(guò)程中因寄生電感而產(chǎn)生的過(guò)壓。為抑特種通期間的壓差,靜態(tài)導(dǎo)通電阻(RDSon)最好低于1m。只有本征電容和Rg都很小,開(kāi)關(guān)損耗才能降至最低,從而實(shí)現(xiàn)快速的開(kāi)關(guān)操作。Crss/Ciss比率是一個(gè)非常敏感的參數(shù),有助于防止米勒效應(yīng)導(dǎo)致的任何異常導(dǎo)通,并可以更好地控制di/dt和dV/dt速率,配合體-漏二極管Qrr反向恢復(fù)電荷和反向恢復(fù)軟度,可顯著降低器件對(duì)EMI的敏感度。
為滿足低耗散功率和電磁干擾的要求,STL285N4F7AG優(yōu)化了電容比值(Crss/Ciss)。圖2是STL285N4F7AG與競(jìng)品的電容比值比較圖。
圖2.STL285N4F7AG與競(jìng)品的Crss/Ciss電容比測(cè)量值比較
此外,圖3所示是意法半導(dǎo)體的STL285N4F7AG的體-漏二極管與競(jìng)品的性能測(cè)量值比較圖。
圖3:STL285N4F7AG與競(jìng)品的體-漏二極管性能測(cè)量值比較
測(cè)量參數(shù)表明,對(duì)于一個(gè)固定的di/dt值,STL285N4F7AG的反向恢復(fù)電荷(Qrr)和恢復(fù)時(shí)間(Trr)都小于競(jìng)品,這個(gè)特性的好處歸納如下:
-低Qrr可降低逆變器在開(kāi)啟時(shí)的動(dòng)態(tài)損耗,并優(yōu)化功率級(jí)的EMI特性
-更好的Trr可改善二極管恢復(fù)電壓上升速率(dv/dt)的動(dòng)態(tài)峰值。在續(xù)流期間電流流過(guò)體漏二極管時(shí),Trr是導(dǎo)致電橋故障的常見(jiàn)主要原因。
因此,dv/dt是保證閂鎖效應(yīng)耐受能力的重要參數(shù),測(cè)量結(jié)果顯示,意法半導(dǎo)體產(chǎn)品的dv/dt性能(圖4)優(yōu)于競(jìng)品(圖5)。
圖4.STL285N4F7AG的dv/dtt測(cè)量值
圖5.競(jìng)品的dv/dt測(cè)量值
2.2.短路實(shí)驗(yàn)性能測(cè)試
我們通過(guò)一個(gè)短路實(shí)驗(yàn)來(lái)測(cè)量、驗(yàn)證意法半導(dǎo)體40V汽車功率MOSFET在汽車安全應(yīng)用中的穩(wěn)定性。電子系統(tǒng)可能因各種原因而發(fā)生短路,例如,存在濕氣、缺乏絕緣保護(hù)、電氣部件意外接觸和電壓過(guò)高。因?yàn)槎搪吠ǔJ且馔庠斐傻?,所以短路很少是永久的,一般持續(xù)幾微秒。在短路期間,整個(gè)系統(tǒng),特別是功率級(jí)必須承受多個(gè)高電流事件。我們用STL285N4F7AG和測(cè)試板做了一個(gè)短路實(shí)驗(yàn),測(cè)量結(jié)果如圖6所示:
圖6:測(cè)試板
按照以下步驟完成實(shí)驗(yàn):
1)用曲線測(cè)量?jī)x預(yù)先測(cè)試主要電氣參數(shù)
2)測(cè)試板加熱至135C,并施加兩次10s的短路脈沖,間隔小于1s。限流器保護(hù)功能激活做一次實(shí)驗(yàn),不激活做一次實(shí)驗(yàn)。
3)對(duì)器件進(jìn)行去焊處理,并再次測(cè)量主要電氣參數(shù),檢查功率MOSFET的完整性或性能衰減。
測(cè)量結(jié)果如圖7所示。
圖7:STL285N4F7AG短路測(cè)試
在短路事件過(guò)程中測(cè)量到的實(shí)際電流值是在2000A范圍內(nèi),脈沖持續(xù)時(shí)間為10s。我們進(jìn)行了十次測(cè)試,Tperiod=5s。STL285N4F7AG成功地承受住短路沖擊,未發(fā)生任何故障;但當(dāng)電流值大于2400A時(shí),出現(xiàn)故障(圖8)。
圖8.STL285N4F7AG失效時(shí)的電流測(cè)量值(Id2400A)
3.結(jié)論
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,意法半導(dǎo)體最先進(jìn)的AEC-Q10140V功率MOSFET可輕松符合汽車安全系統(tǒng)的嚴(yán)格要求。因此,意法半導(dǎo)體的新溝槽N溝道器件是汽車EPS和EPB系統(tǒng)的最佳選擇。
4.參考文獻(xiàn)
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